标准编号：GB/T 5594.4-1985
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value
发布部门：国家标准局
起草单位：天津大学
标准状态：作废
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
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