标准编号：GB/T 15653-1995
标准名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法
英文名称：Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布部门：国家技术监督局
起草单位：电子工业部标准化研究所
标准状态：现行
发布日期：1995-07-24
实施日期：1996-04-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。
本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。
本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。
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