标准搜索:

JB/T 9499.7-1999 康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量

标准编号:JB/T 9499.7-1999
标准名称:康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
英文名称:Method for chemical analysis of constantan resistance alloy-The molybdosilicate blue photometric method for the deternination of silicon content
发布部门:国家机械工业局
起草单位:重庆仪表材料研究所、四川仪表一厂
标准状态:现行
发布日期:1999-08-06
实施日期:2000年1月1日
标准格式:PDF
内容简介
本标准适用于康铜电阻合金中硅量的测定。
测定范围:0.010%~0.12%。
下载地址


下载地址②

上一篇:JB/T 9499.6-1999 康铜电阻合金化学分析方法 磺基水杨酸光度法测定铁量
下一篇:JB/T 9494-1999 聚酯漆包圆电阻线