标准编号:GB/T 21039.1-2007
标准名称:半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-1: Microwave diodes and transistors - Microwave field effect transistors - Blank detail specification
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:中国电子技术标准化研究所
标准状态:现行
发布日期:2007-06-29
实施日期:2007-11-01
标准格式:PDF
内容简介
本部分等同采用IEC 60747-4-1:2000《半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范》。
本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,具体内容包括:机械说明;简要说明;质量评定类别;极限值;电特性;标志;订货资料;试验条件和简要要求等。
本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,具体内容包括:机械说明;简要说明;质量评定类别;极限值;电特性;标志;订货资料;试验条件和简要要求等。
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