标准搜索:

GB/T 25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法

标准编号:GB/T 25189-2010
标准名称:微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法
英文名称:Microbeam analysis - Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:中国地质科学院矿产资源研究所
标准状态:现行
发布日期:2010-09-26
实施日期:2011-08-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。
  本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定,并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析。
下载地址


下载地址②

上一篇:GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
下一篇:GB/T 25137-2010 钛及钛合金锻件