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GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

标准编号:GB/T 14620-2013
标准名称:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
英文名称:Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
发布部门:国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位:中国电子技术标准化研究院
标准状态:现行
发布日期:2013-11-12
实施日期:2014-04-15
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。
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