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JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

标准编号:JB/T 10034-2012
标准名称:光栅角位移测量系统
英文名称:Grating angular displacement measuring system
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
起草单位:四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司、成都工具研究所、广州市诺信数字测控设各有限公司、廊坊开发区莱格光电仪器有限公司
标准状态:现行
发布日期:2012-05-24
实施日期:2012-11-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″,准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10"级和士 20 “级的光栅角位移测量系统(以下简称“测量系统” )。
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