标准编号：SJ/T 2658.1-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode -Part 1:General
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
标准状态：现行
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准格式：PDF
内容简介
规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。
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