标准编号：JJF 1760-2019
标准名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范
英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
发布部门：国家市场监督管理总局
起草单位：中国计量科学研究院
标准状态：现行
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
标准格式：PDF
内容简介
本规范适用于电阻率在0.003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
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