- JB/T 7778.1-2008 银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分:硫氰酸盐容量法测定银量
2011年10月31日 ... JB/T 7778的本部分规定了银碳化钨电触头材料中银量的测定方法。本部分适用于银碳化钨电触头材料中银质量分数的测定。测定范围:80.00%~90.00%。
- JB/T 7777.5-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分:火焰原子吸收光谱法测定...
2011年10月31日 ... JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟质量分数的测定方法。本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中镍、锌和铟质量分数的测定。
- JB/T 7777.4-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分:PAN分光光度法测定锌...
2011年10月31日 ... JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锌量的测定方法。本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锌质量分数的测定。测定范围:0.05%~1.00%。
- JB/T 7777.3-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分:丁二酮肟分光光度法测定...
2011年10月31日 ... JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中镍量的测定方法。本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中镍质量分数的测定。测定范围:0.03%~1.00%。
- JB/T 7777.2-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分:EDTA容量法测定铟量
2011年10月31日 ... JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中铟量的测定方法。本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中铟质量分数的测定。测定范围:1.00%~5.00%。
- JB/T 7777.1-2008 银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分:碘量法测定锡量
2011年10月31日 ... JB/T 7777的本部分规定了银氧化锡氧化铟电触头材料中锡量的测定方法。本部分适用于银氧化锡氧化铟电触头材料中锡质量分数的测定。测定范围:3.00%~10.oo%。
- JB/T 7776.7-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分:铬天青S分光光度法测定铝量
2011年10月31日 ... JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中铝量的测定方法。本部分适用于银氧化镉电触头材料中铝量的测定。测量范围:0.05%~40.10%。
- JB/T 7776.6-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第6部分:火焰原子吸收光谱法测定镁量
2011年10月31日 ... JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中镁量的测定方法。本部分适用于银氧化镉电触头材料中镁量的测定。测量范围:O.010%~0.050%。
- JB/T 7776.5-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分:硫脲分光光度法测定铋量
2011年10月31日 ... JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中铋量的测定方法。本部分适用于银氧化镉电触头材料中铋量的测定。测定范围:0.05%~0.50%。
- JB/T 7776.4-2008 银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分:苯芴酮分光光度法测定锡量
2011年10月31日 ... JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中锡量的测定方法。本部分适用于银氧化镉电触头材料中锡量的测定。测定范围:0.10%~O.50%。
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