2011年10月26日 ... JIS C 5750-3-5-2006 可信性管理.第3-5部分应用指南.可靠性试验条件和统计试验的原则

2011年10月26日 ... JIS C 5750-3-1-2006 Dependability management Part 3-1 Application guide Analysis techniques for dependability Guide on methodology

2011年10月26日 ... JIS C 5630-3-2009 Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices- Part 3 Thin film standard test piece for tensile testing

2011年10月26日 ... JIS C 5952-7-2008 纤维光学有源元件及器件.包装和接口标准.第7部分SFF LC 10-pin收发器

2011年10月26日 ... JIS C 5630-2-2009 Semiconductor devices-Micro-electromechanical devices- Part 2 Tensile testing method of thin film materials

2011年10月26日 ... JIS C 5952-6-2008 纤维光学有源元件及器件.包装和接口标准.第6部分ATM-PON收发器

2011年10月26日 ... JIS C 5952-5-2008 纤维光学有源元件及器件.包装和接口标准.第5部分SC 1x9光学纤维模块

2011年10月26日 ... JIS C 5952-4-2008 纤维光学有源元件及器件.包装和接口标准.第4部分PN 1x9塑料光学纤维收发器

2011年10月26日 ... JIS C 5952-3-2008 纤维光学有源元件及器件.包装和接口标准.第3部分SFF MT-RJ 20-pin收发器

2011年10月26日 ... JIS C 5952-2-2008 纤维光学有源元件及器件.包装和接口标准.第2部分SFF MT-RJ 10-pin收发器