标准编号：JIS R1636-1998
标准名称：精细陶瓷薄膜厚度的试验方法 用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
英文名称：Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer
发布部门：
起草单位：Technical Committee on Ceramics
标准状态：现行
发布日期：1998-01-20
实施日期：
标准格式：PDF
内容简介
非金属;特种陶瓷;薄膜材料;硬度;表面粗糙度测定;材料强度;陶瓷
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