标准编号：JIS R1683-2007
标准名称：用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
英文名称：Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
发布部门：
起草单位：Technical Committee on Ceramics
标准状态：现行
发布日期：2007-11-20
实施日期：
标准格式：PDF
内容简介
JIS R1683-2007 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法;
用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法 JIS R1683-2007
用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法 JIS R1683-2007
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