标准编号：YB/T 174.3-2000
标准名称：氮化硅结合碳化硅制品化学分析方法 钼蓝光度法测定游离硅量
英文名称：Chemical analysis for silicon nitride bonded silicon carbide prodct-Determination of free silicon content-Molybdenm blue photometric method
发布部门：国家冶金工业局
起草单位：洛阳耐火材料研究院
标准状态：作废
发布日期：2000-07-26
实施日期：2000-12-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了钼蓝光度法测定游离硅量的方法提要、试剂、仪器设备、试样、分析步骤、分析结果的表述及允许差。 本标准适用于氮化硅结合碳化硅制品中游离硅量的测定。测定范围:游离硅100%～2.00%.
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