标准名称：QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
标准格式：PDF
标准大小：520.49 KB
标准状态：现行
推荐等级：★★★★
授权方式：免费下载
解压密码：www.biaozhuns.com
更新日期：2011年11月13日
内容简介
QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
下载地址
标准目录
下载排行
推荐内容
- QJ 1835.11-1990 航天工业标准制修定工作管理办法 废止规定
- QJ 3013-1998 红外光学产品粘接密封工艺技术要求
- QJ 3047-1998 Z602型压控晶体振荡器详细规范
- QJ 1181.6A-1995 软磁合金的热处理 恒磁导率合金的热处理
- QJ 2682-1994 MJ螺纹600MPa-235℃碳钢六角螺母
- QJ 1078.13-1992 2JB0.5-31型扁平型(15mm×10mm×6mm)磁保持继电器详细规范
- QJ 1896.8-1990 24°导管连接件(补充部份) 四通管接头
- QJ 1112A-2008 手动截止阀通用规范
- QJ 2604-1994 固体战略导弹水平装填设备通用规范
- QJ 1247A-2006 钢丝螺套安装技术要求