标准编号：JJF 1236-2010
标准名称：半导体管特性图示仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
起草单位：中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器有限公司
标准状态：现行
发布日期：2010-01-05
实施日期：2010-04-05
标准格式：PDF
内容简介
本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪的校准。
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