标准编号：JJF 1682-2017
标准名称：光栅式测微仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Grating Micrometers
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
标准状态：现行
发布日期：2017-11-20
实施日期：2018-05-20
标准格式：PDF
内容简介
本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。
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