标准编号：SJ/T 2214-2015
标准名称：半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
英文名称：Measuring methods for semiconductor photodiode and phototransistor
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所
标准状态：现行
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了半导体光电二极管和光电晶体管（以下简称“器件”）光电参数的测试方法。
本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。
本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
本标准适用于半导体光电二极管和光电晶体管光电参数的测试。
本标准不适用PIN、雪崩光电二极管的测试。
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