标准编号：SJ/T 2658.8-2015
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 8:Radiant intensity
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
标准状态：现行
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准格式：PDF
内容简介
规定了半导体红外发射二极管辐射强度的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
本部分适用于半导体红外发射二极管。
本部分适用于半导体红外发射二极管。
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