标准编号：SJ/T 11699-2018
标准名称：IP核可测性设计指南
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
起草单位：
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准状态：现行
标准格式：PDF
文件大小：11.70 MB
内容简介
本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。
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