标准搜索:

DB34/T 3368.1-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 1 部分:铅、汞、铬、镉和溴 的快速筛选 X 射线荧光光谱法

标准编号:DB34/T 3368.1-2019
标准名称:印制电路板中有害物质分析方法 第 1 部分:铅、汞、铬、镉和溴 的快速筛选 X 射线荧光光谱法
发布部门:安徽省市场监督管理局
起草单位:安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心。
发布日期:2019-07-01
实施日期:2019-09-01
标准状态:现行
标准格式:PDF
文件大小:142.53 KB
内容简介
本部分规定了 X 射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、
仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。
本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选,其中所测定的铬、溴是指样
品中的总铬、总溴。
下载地址


下载地址②

上一篇:DB34/T 3367-2019 印制电路板镀覆孔热应力的测试 方法
下一篇:DB34/T 3368.2-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 2 部分:卤素(氯和溴)的测 定 离子色谱法