标准编号：SJ 21147.3-2016
标准名称：军用集成电路电磁发射测量方法 第3部分：辐射发射测量-表面扫描法
英文名称：Measurement of electromagnetic emissions for military integrated circuits -Part 3:Measurement of radiated emissions-Surface scan method
发布部门：国家国防科技工业局
起草单位：工业和信息化部电子第四研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国科学院自动化研究所
标准状态：现行
发布日期：2016-01-19
实施日期：2016-03-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分规定了集成电路(工C)表面或附近的近场电场、磁场或电磁场分量的测量方法。
本测量方法适用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC，可用于IC的结构分析，如平面规划和电源分布的优化。
本测量方法适用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC，可用于IC的结构分析，如平面规划和电源分布的优化。
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