标准编号：YS/T 666-2008
标准名称：工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布部门：中华人民共和国国家发展和改革委员会
起草单位：中国铝业股份有限公司河南分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司贵州分公司
标准状态：现行
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
本标准适用于工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
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