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YS/T 38.1-2009 高纯镓化学分析方法 第1部分:硅量的测定 钼蓝分光光度法

标准编号:YS/T 38.1-2009
标准名称:高纯镓化学分析方法 第1部分:硅量的测定 钼蓝分光光度法
英文名称:Chemical analysis methods of High pure gallium-Part 1: Determination of silicon content-Molybdenum blue spectrophotometry
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
起草单位:北京有色金属研究总院、株洲冶炼集团、峨嵋半导体厂
标准状态:现行
发布日期:2009-12-04
实施日期:2010-06-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准规定了高纯镓中硅含量的测定方法。
本标准适用于镓(99.9999%)中硅含量的测定。测定范围0.00001%~0.00005%。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》为YS/T38的第1部分。
YS/T38《高纯镓化学分析方法》分为两个部分:
第1部分:《高纯镓化学分析方法硅量的测定钼蓝分光光度法》;
第2部分:《高纯镓化学分析方法镁、钛、铬、锰、镍、钴、铜、锌、镉、锡、铅、铋量的测定电感耦合等离子体质谱法》。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》代替对YS/T38.1—1992《高纯镓化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量》。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》与YS/T38.1—1992相比,主要有如下变动:对原方法表述格式进行了修改。
《高纯镓化学分析方法(第1部分):硅量的测定钼蓝分光光度法》由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
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