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DB34/T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法

标准编号:DB34/T 3770-2020
标准名称:用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法
发布部门:安徽省市场监督管理局
起草单位:
发布日期:2020-11-27
实施日期:2020-12-27
标准状态:现行
标准格式:PDF
文件大小:622.44 KB
内容简介
DB34/T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法;
用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法 DB34/T 3770-2020
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