SJ 21262-2018 MEMS 惯性器件芯片在片测试技术要求

本标准规定了MEMS惯性器件敏感芯片电参数在片测试的人员、环境、安全、设备和仪器的一般要求，以及测试流程、测试准备、测试系统连接、参数测试等详细要求。
本标准适用于MEMS惯性器件敏感芯片（以下简称营片）导通电阻、绝缘电阻、极间电容、谐振频率、品质因数等电参数的在片测试。