标准编号：SJ 21160-2016
标准名称：微波组件低气压检漏试验方法
英文名称：Low pressure leak detection test method for microwave assembly
发布部门：国家国防科技工业局
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
标准状态：现行
发布日期：2016-12-14
实施日期：2017-03-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。
本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。
本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。
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