标准编号：DB13/T 5695-2023
标准名称：GaN HEMT射频器件陷阱效应测试方法
发布部门：河北省市场监督管理局
起草单位：河北博威集成电路有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所等
发布日期：2023-05-06
实施日期：2023-06-06
标准状态：现行
标准格式：PDF
文件大小：912.85 KB
内容简介
DB13/T 5695-2023 GaN HEMT射频器件陷阱效应测试方法;
GaN HEMT射频器件陷阱效应测试方法 DB13/T 5695-2023
GaN HEMT射频器件陷阱效应测试方法 DB13/T 5695-2023
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