标准编号：T/CIE 155-2023
标准名称：非易失性相变存储器电性能测试方法
英文名称：Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory
发布部门：中国电子学会
起草单位：华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
标准状态：现行
发布日期：2023-03-20
实施日期：2023-03-20
标准格式：PDF
内容简介
本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。
本文件适用于相变存储器件单元（以下简称器件）。
本文件适用于相变存储器件单元（以下简称器件）。
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