标准编号：T/BDT 003-2024
标准名称：高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备
英文名称：High-speed analog-to-digital converter（ADC）test equipment
发布部门：中国半导体行业协会
起草单位：南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
标准状态：现行
发布日期：2024-10-09
实施日期：2024-10-10
标准格式：PDF
内容简介
本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。
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