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T/QGCML 4791-2024 半导体薄膜沉积 技术要求

标准编号:T/QGCML 4791-2024
标准名称:半导体薄膜沉积 技术要求
发布部门:全国城市工业品贸易中心联合会
起草单位:江苏中芯沃达半导体科技有限公司
发布日期:2024-10-17
实施日期:2024-11-01
标准状态:现行
标准格式:PDF
文件大小:221.80 KB
内容简介
本文件规定了半导体薄膜沉积 技术要求的术语和定义、基本要求、在线监测、质量控制、检验方法。
本文件适用于半导体薄膜沉积 技术要求的设计和检验。
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