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DB13/T 6033-2024 半导体器件低浓度氢效应试验方法

标准编号:DB13/T 6033-2024
标准名称:半导体器件低浓度氢效应试验方法
发布部门:河北省市场监督管理局
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司
发布日期:2024-10-28
实施日期:2024-11-28
标准状态:现行
标准格式:PDF
文件大小:574.23 KB
内容简介
DB13/T 6033-2024 半导体器件低浓度氢效应试验方法;
半导体器件低浓度氢效应试验方法 DB13/T 6033-2024
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