标准编号：DB51/T 3207-2024
标准名称：集成电路测试用微波探针应用规范
发布部门：四川省市场监督管理局
起草单位：
发布日期：2024-12-03
实施日期：2024-12-29
标准状态：现行
标准格式：PDF
文件大小：509.99 KB
内容简介
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。
本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
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