标准编号：JJF(皖) 259-2026
标准名称：半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范
发布部门：安徽省市场监督管理局
起草单位：
发布日期：2026-01-09
实施日期：2026-03-01
标准状态：现行
标准格式：PDF
文件大小：2.46 MB
内容简介
本规范适用于温度范围(-10~150)℃、湿度范围(60~100)%RH、压力范围(0~0.5)MPa、延时时间(0~100)h 的半导体器件PCT 老化综合试验系统的校准。
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