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- T/ZJBDT 001.4-2025 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第4部分:阻变存储芯片测试
2025年3月4日 ... 本文件描述了阻变存储芯片存储性及可靠性测试方法的术语、测试要求、测试设备、测试条件、测试程序等。本文件适用于实现阻变存储芯片的存储性及可靠性验证。
- T/ZJBDT 001.3-2025 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第3部分:相变存储芯片测试
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- T/ZJBDT 001.2-2025 新型非易失性存储芯片(磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片)存储性及可靠性测试方法 第2部分:磁随机存储芯片测试
2025年3月4日 ... 本文件描述了磁随机存储芯片存储性及可靠性测试方法的术语、测试要求、测试设备、测试条件、测试程序等。本文件适用于实现磁随机存储芯片的存
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2025年3月4日 ... 本文件描述了磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片的存储性及可靠性测试方法。本文件适用于磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯
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