- SJ 21353-2018 掺饰无机氧化物闪烁晶体加工工艺技术要求
2022年1月14日 ... 本规范适用于Ce:LYSO、Ce:LSO、Ce:YSO、CeLuYAP和Ce:GAGG等掺铈无机氧化物闪烁晶体加工。
- SJ 21352-2018 掺铈无机氧化物闪烁晶体生长工艺技术要求
2022年1月14日 ... 本规范适用于Ce:LYSO、Ce:LSO、Ce:YSO、CeLuYAP和Ce:GAGG等掺铈无机氧化物闪烁晶体原生晶棒生长。
- SJ 21351-2018 掺铈无机氧化物闪烁晶体原料制备工艺技术要求
2022年1月14日 ... 本规范适用于Ce:LYSO、Ce:LSO、Ce:YSO、CeLuYAP和Ce:GAGG等掺铈无机氧化物闪烁晶体制备料的制备。
- SJ 21348-2018 超导器件环境试验方法
2022年1月14日 ... 本标准规定了超导器件的温度循环、低温贮存、高温贮存、温度冲击、低频振动、随机振动、冲击(规定脉冲)、稳态加速度和低温工作等环境试验方法。
- SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
2022年1月14日 ... 本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法。
- SJ 21346-2018 低温低损耗传输线绝热组件测试方法
2022年1月14日 ... 本标准规定了低温低损耗传输线绝热组件性能参数插入损耗、电压驻波比、等效噪声温度、漏率和漏热量的测试方法。本标准适用于低温低损耗传输线
- SJ 21345-2018 低温低噪声放大器测试方法
2022年1月14日 ... 本标准规定了低温低噪声放大器的噪声系数、功率增益、功率增益平坦度、1分贝增益压缩输出功率、三阶互调失真、输入回波损耗和输入电压驻波比、
- SJ 21344-2018 超导滤波器测试方法
2022年1月14日 ... 本标准规定了超导滤波器的中心频率、带宽、插入损耗、电压驻波比、阻带抑制、矩形系数、通带波动、群时延、群时延波动、承载功率等电参数测试
- SJ 21342-2018 极低噪声测试方法
2022年1月14日 ... 本标准规定了极低噪声(噪声系数或噪声温度)的测试方法。本标准适用十低温放大器及其组件(以下简称低温放大器)和包含馈源低温接收妇t或组件(以下
- SJ 21334-2018 陶瓷外壳及金属外壳 电镀镍工艺技术要求
2022年1月14日 ... 本标准规定了微电子封装用陶瓷外壳、金属外壳及其零件电镀镍工艺的要求。本标准适用于陶瓷外壳、金属外壳及其零件的电镀镍工艺。
标准目录
下载排行
- SJ/T 11364-2014 电子电气产品有害物质限制使用标识要求
- SJ/T 11141-2012 LED显示屏通用规范
- SJ 20659-1998 空降兵定向通信系统指挥电台通用规范
- SJ 20893-2003 不锈钢酸洗与钝化规范
- SJ/T 11408-2009 软件构件 图形用户界面图元构件描述规范
- SJ 20673-1998 军用电磁屏蔽橡胶衬垫材料通用规范
- SJ 20862-2003 中长波战术电台通用规范
- SJ 20820.8-2002 信息技术 小计算机系统接口(SCSI)-3基本命令层 第8部分 机箱服务命令集
- SJ 20624-1997 军用方舱升降机构通用规范
- SJ/T 10817-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可
推荐内容
- SJ 51510/9-2018 X 波段椭圆波导组件详细规范
- SJ 20610-1996 微波电路 微波开关测试方法
- SJT 198-2001 计数管总规范
- SJ/T 3228.3-2016 电子产品用高纯石英砂 第3部分 灼烧失量的测定
- SJ 21451-2018 集成电路陶瓷封装 圆片划片工艺技术要求
- SJ/T 11140-2012 铝电解电容器用电极箔
- SJ 20336-1993 超小型(20.5×10.5×10.5)气密式密封磁保持继电器详细规范
- SJ/T 11652-2016 离散制造业生产管理用射频识别标签数据模型
- SJ 50033.125-1997 半导体分立器件PIN11~15型硅PIN二极管详细规范
- SJ 50033.17-1994 半导体分立器件.3DK308型功率开关晶体管详细规范