标准编号：SJ 21347-2018
标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法
英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
发布部门：国家国防科技工业局
起草单位：中国电子科技集团公司第十六研究所
标准状态：现行
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。
本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法。
本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法。
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