2024年7月4日 ... 本校准规范适用于地磁经纬仪的校准。

2024年7月4日 ... 本规范适用于蔡恩杯黏度计的校准。

2024年7月4日 ... 本规范适用于运载火箭开罩分离系统检测装置（以下简称检测装置）的校准。

2024年7月4日 ... 本规范适用于湿度范围（5～60）%RH、温度范围（10～35）℃的电子防潮柜湿度、温度偏差的校准。

2024年7月4日 ... 本规范适用于使用点源法对固定式X、γ辐射监测仪开展的现场校准，使用点源产生的辐射辐参考值应包含在固定式X、γ辐射监测仪的测量范围内。本规

2024年7月4日 ... 本规范适用于对新制造的、新购置的、使用中和修理后的最大屏蔽系数不超过120dB（不大于1kHz）磁屏蔽室的校准。屏蔽系数大于120dB、频率1kHz～100kHz的

2024年7月4日 ... 本规范适用于线宽在100nm~10μm之间的线宽标准样片线宽的校准。

2024年7月4日 ... 本规范适用于测试速率在200Mbps~4Gbps之间的单端信号（非差分）模式下，数字集成电路测试系统（DigitalIntegratedCircuitTestingSystem）的时间参数校准。

2024年7月4日 ... 本规范适用于对数字集成电路标准样片的校准。

2024年7月4日 ... 本规范规定了厚度在10nm~1000nm之间的氧化层膜厚标准样片的校准。