标准编号：GB/T 17444-1998
标准名称：红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
英文名称：The technical norms for measurementand test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
发布部门：国家质量技术监督局
起草单位：中国科学院上海技术物理研究所
标准状态：作废
发布日期：1998-07-30
实施日期：1999-05-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。
本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵焦平面。
本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵焦平面。
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