标准编号：GB/T 4937.1-2006
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所
标准状态：现行
发布日期：2006-08-23
实施日期：2007-02-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。
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