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GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

标准编号:GB/T 5252-2006
标准名称:锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
英文名称:Germanium monocrystal - inspection of dislocation etch pit density
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:北京有色金属研究总院
标准状态:现行
发布日期:2006-07-18
实施日期:2006-11-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准适用于位错密度0~100000 的锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为[111]、[100]和[113]面。
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