标准编号：GB/T 17473.1-2008
标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of solids content
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：贵研铂业股份有限公司
标准状态：现行
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。
本部分代替GB/T17473．1—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。
本部分代替GB/T17473．1—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》。
下载地址