标准编号：GB/T 19403.1-2003
标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
英文名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：信息产业部第四研究所
标准状态：现行
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
标准格式：PDF
内容简介
本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。
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