标准编号：GB/T 20724-2006
标准名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
英文名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：北京科技大学
标准状态：现行
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。
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