GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。

　　本标准等同采用ISO 15632：2002《半导体探测器X射线能谱仪通则》。
　　本标准的附录A、附录B为规范性附录。
　　本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。
　　本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。