标准编号：GB/T 21636-2008
标准名称：微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语
英文名称：Microbeam analysis - Electron Probe Micro Analysis (EPMA) - Vocabulary
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：全国微束分析标准化技术委员会
标准状态：现行
发布日期：2008-04-11
实施日期：2008-10-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准定义了电子探针显微分析（EPmA）实践中使用的术语，包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。
本标准适用于所有有关电子探针分析（EPmA）实践的标准化文件，部分使用于相关领域[例如：扫描电子显微镜(SEm)，分析电子显微镜(AEm)，X射线能谱仪等]的标准化文件，用于定义共用的术语。
本标准适用于所有有关电子探针分析（EPmA）实践的标准化文件，部分使用于相关领域[例如：扫描电子显微镜(SEm)，分析电子显微镜(AEm)，X射线能谱仪等]的标准化文件，用于定义共用的术语。
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