标准编号：GB/T 16594-2008
标准名称：微米级长度的扫描电镜测量方法通则
英文名称：General rules for measurement of length in micron scale by SEM
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：上海理工大学、上海元宝能源技术有限公司、同济大学、上海市计量测试技术研究院、中国船舶重工集团公司第725研究所。
标准状态：现行
发布日期：2008-09-18
实施日期：2009-05-01
标准格式：PDF
内容简介
本标准代替GB/T 16594-1996《微米级长度的扫描电镜测量方法》。
本标准规定了微米级长度的扫描电镜测量方法的通用原则。
本标准规定了微米级长度的扫描电镜测量方法的通用原则。
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