标准编号:GB/T 23414-2009
标准名称:微束分析 扫描电子显微术 术语
英文名称:Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所
标准状态:现行
发布日期:2009-04-01
实施日期:2009-12-01
标准格式:PDF
内容简介
本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本标准等同采用国际标准ISO 22493:2008《微束分析扫描电子显微术术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
——“本国际标准”一词改为“本标准”;
——删除国际标准的前言。
——“扫描电子显微镜”简称“扫描电镜”。
——增加了中文索引。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅。
本标准等同采用国际标准ISO 22493:2008《微束分析扫描电子显微术术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
——“本国际标准”一词改为“本标准”;
——删除国际标准的前言。
——“扫描电子显微镜”简称“扫描电镜”。
——增加了中文索引。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅。
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