标准编号:GB/T 4937.4-2012
标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
英文名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
发布部门:国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
标准状态:现行
发布日期:2012-11-05
实施日期:2013-02-15
标准格式:PDF
内容简介
GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
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