GB 2689.1-1981 恒定应应力寿命试验和加速寿命试验方法总则

本标准适用于电子器件产品的恒定应力寿命试验和加速寿命试验。用来定量地分析产品的可靠性。在制订有可靠性指标要求的产品技术标准时，为鉴定产品的失效率等级、寿命特征、产品失效分布、加速方程和加速系数等提供统一的方法。